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하드웨어

디지털 전치 왜곡(DPD) 및 다이나믹 전원 공급 조건 하에서 RF PA 테스트

2017.08.25 | National Instruments
무선 통신들이 저마다 진화하면서 더 높은 데이터 스루풋을 얻을 수 있게 되었지만, 그로 인해 웨이브폼이 복잡해지면서 물리적 라디오에 대한 요구 사항 역시 대단히 복잡해졌습니다. 현대적 무선 라디오는 훨씬 더 넓은 대역폭(802.11ac의 경우 최대 160 MHz)을 사용하며, 피크-평균 전력비 (PAPR)와 같은 신호 특성으로 인해 RF 전력 증폭기에 대해 해결하기 어려운 선형성 및 효율 요구사항이 발생합니다.
시스템 디자이너들은 이와 같은 선형성 및 효율에 대한 요구사항을 해결하기 위해 주로 선형성 개선을 위한 DPD (디지털 전치 왜곡) 등의 선형화 기법과 효율 향상을 위한 ET (Envelope Tracking) 또는 DP (직접 극성) 변조 등의 DPS (다이나믹 전원 공급) 기법을 사용합니다. 이런 기법들이 사용되면서 엔지니어들은 새로운 테스트 방법을 찾고 요구사항을 충족해야만 합니다. 본 백서에서 DPD, DPS 등의 고급 PA 테스트 기법에 대한 테스트 사례를 확인할 수 있습니다.

주요 내용
- 전력 증폭기의 동작 특성
- AM-AM 및 AM-PM 측정
- 비선형 왜곡의 효과 이해
- 디지털 전치 왜곡(DPD)
- DPD 조건 하에서 PA 테스트
- 다이나믹 전원 공급 기법 소개

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